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摘要：阐述IGBT功率循环加速老化试验平台的设计，老化试验步骤，提出了IGBT老化状态评估方法。试验结果表明：随着老化进程的加剧，IGBT饱和导通压降呈现增加的趋势，基于加速老化试验的IGBT状态评估方法科学有效、可行性高。

关键词： IGBT; 加速老化试验; 饱和导通压降; 状态评估;

专辑： 信息科技

专题： 无线电电子学

分类号： TN322.8

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